SMU數(shù)字源表搭建晶圓級微電子測試系統(tǒng)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢，普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向，深耕半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、插卡式源表、脈沖恒流源、高壓程控電源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、大功率激光器老化測試系統(tǒng)等測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于高校研究所、實驗室，新能源，光伏，風(fēng)電，軌交，變頻器等場景。

在半導(dǎo)體材料和器件的研究中，電性能測試是比不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的提升，微電子工藝逐漸復(fù)雜，如何對微電子材料器件進(jìn)行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關(guān)注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU，為進(jìn)一步打通測試融合壁壘，打造閉環(huán)解決方案，通過對半導(dǎo)體搞端測試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級微電子材料器件測試系統(tǒng)應(yīng)運而生!
普賽斯數(shù)字源表SMU是整個測試系統(tǒng)的核心部分，用戶可以根據(jù)材料器件不同的電流、電壓，配置不同規(guī)格參數(shù)的源表和探針臺。

更高效:靈活測試：

體積小巧，節(jié)省實驗臺空間
接線簡單，無需繁雜的同步觸發(fā)操作
適應(yīng)多種測量模式，如四探針、三同軸等

更可靠:廣泛應(yīng)用：
利用普賽斯這套國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表+探針臺的測試系統(tǒng)，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。